主要装置

装置一覧

装置名 機種(メーカー) 担当者
超伝導核磁気共鳴装置 Avance Ⅲ 700(BRUKER)
羽子岡
竹中
佐古
Avance Ⅲ 600 WB(BRUKER)
ECA600(JEOL)
ECS400(JEOL)
質量分析装置 JMS-700(JEOL) 朝野
松崎
JMS-600H(JEOL)
AccuTOF-DART (JEOL)
Ultraflex Ⅲ(BRUKER)
micrOTOF Ⅱ(BRUKER)
Orbitrap XL(THERMO)
ITQ1100(THERMO)
フーリエ変換赤外分光光度計 FT/IR4100(JASCO) 鈴木
羽子岡
React-IR45m (METTLER)
紫外可視近赤外分光光度計 V-770(JASCO)
旋光計 P-2300(JASCO)
高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置 ICPS-8100(SIMADZU) 江口,羽子岡
X線マイクロアナライザー JXA-8800R(JEOL) 江口
二次イオン質量分析装置 SIMS4100(ATOMIKA) 江口
走査型電子顕微鏡
JSM-6330F(JEOL) 江口、村上
透過型電子顕微鏡 JEM-ARM200F(JEOL) 村上
神内
JEM-2100 (JEOL) 西野
全自動水平型多目的X線回折装置 SmartLab(RIGAKU) 嵩原
単結晶自動X線回折装置 AFC-7RCCD,AFC-7R4CCD(RIGAKU) 嵩原
FR-E+-IP,FR-E+-AXIS Ⅳ(RIGAKU)
CHN 微量元素分析装置 2400(PERKIN-ELMER) 松崎
JM10 (J-SCIENCE)
示差熱天秤 TG8120(RIGAKU) 嵩原
示差走査熱量計 DSC8270 (RIGAKU) 嵩原
ナノスケールハイブリッド顕微鏡 Keyence VN-80 村上
蛍光X線回折装置 ZSX100e (RIGAKU) 後藤
X線光電子分光装置 JPS-9010MX(JEOL) 羽子岡
円二色分散計 J-1500(JASCO) 羽子岡