装置紹介 - Xray -

全自動水平型多目的X線回折装置XRD

45kV、200mA(Cu)の強力X線を固体材料に照射し、試料から生じた散乱、回折X線を測定します。特に薄膜試料に驚異的な威力を発揮します。インプレーン測定をはじめ膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定、ロッキングカーブ測定など多目的測定装置です。測定はガイダンス機能により初心者にも容易にデータを得ることが出来ます。X線入射源にはGe二結晶、四結晶が選択でき高分解能測定が可能です。また、シンチレーション検出器と数分で高速測定が行える一次元検出器が用意されています。さらに、ICDD(Ver 2.1102)も搭載されています。

単結晶X線回折装置 4CXD,CCD

有機化合物や無機化合物の単結晶に単一波長の強力X線(60kV,300mA,Mo)を照射し、各格子配列面から生じる回折X線の強度を高精度かつ自動的に収集する装置です。回折データ位置を高精度測定が行える四軸方式、高速測定が行えるイメージング・プレート方式の二種類のゴニオが設置されています。各ゴニオには試料高低温制御装置とが備えられており分子の揺らぎを最小限にしたデータが得られます。データから三次元的な分子構造や結晶分子パッキング構造が精密に決定されています。

高輝度型単結晶X線回折装置 IP

本装置のX線源にはCuが用いられており、有機低分子の絶対構造の解明が行えます。また、格子定数の大きな結晶にも適しております。さらに、高輝度ミラーを装着していますので回転単陰極型X線発生装置(18kW)と比較して10倍以上の輝度の高いX線源が確保され微少結晶のデータ収集が行えます。湾曲IP検出器部には2θ換算で150度を超える分解能を有しております。ソフトウエアにはRAPID-AUTOが搭載されています。

蛍光X線分析装置 XRF

波長分散型(WDX)の本装置は、X 線源に Rh 4 kW 管球を使用し、試料から発生した蛍光 X 線を 5 枚の分光結晶(LiF1、PET、Ge、RX-25、RX-75)で回折させ、2 種類の検出器(シンチレーションカウンタおよびガスフロー型プロポーショナルカウンタ)を用いることで、F から U までの幅広い元素の定性・定量分析を感度良く行うことができます。試料は粉末、バルク、液体試料に対応し、最大 12 個までセットして連続測定を行うことができます(ターレット式)。また、定性分析の結果から FP 法により標準試料なしで半定量を行う SQX プログラムや、経験の浅い方でもマニュアルなしで SQX 分析が可能なEZ スキャンモードを搭載しています。