装置紹介 - Xray -
全自動水平型多目的Ｘ線回折装置XRD
45kV、200mA(Cu)の強力X線を固体材料に照射し、試料から生じた散乱、回折X線を測定します。特に薄膜試料に驚異的な威力を発揮します。インプレーン測定をはじめ膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定、ロッキングカーブ測定など多目的測定装置です。測定はガイダンス機能により初心者にも容易にデータを得ることが出来ます。X線入射源にはGe二結晶、四結晶が選択でき高分解能測定が可能です。また、シンチレーション検出器と数分で高速測定が行える一次元検出器が用意されています。さらに、ICDD（Ver 2.1102）も搭載されています。
高速単結晶Ｘ線回折装置 XtaLAB
回転対陰極型高輝度X線源とX線集光ミラーを組み合わせ、κ型ゴニオメータに1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器を搭載した単結晶X線構造解析装置です。X線源はMoおよびCuの2線源から選択できます。検出器は、ゼロノイズ、広いダイナミックレンジにより、高いS/Nで微弱な反射と強い反射を同時に検出でき、さらに、シャッターレスの高速測定も可能です。測定・データ処理ソフトウェアにはCrysAlisProを採用し、自動解析プラグインAutoChemによる効率的な分析が可能です。分析試料は金属錯体や低分子化合物のみならず、タンパク質結晶など幅広く対応します。
蛍光Ｘ線分析装置 XRF
波長分散型（WDX）の本装置は、X 線源に Rh 4 kW 管球を使用し、試料から発生した蛍光 X 線を 5 枚の分光結晶（LiF1、PET、Ge、RX-25、RX-75）で回折させ、2 種類の検出器（シンチレーションカウンタおよびガスフロー型プロポーショナルカウンタ）を用いることで、F から U までの幅広い元素の定性・定量分析を感度良く行うことができます。試料は粉末、バルク、液体試料に対応し、最大 12 個までセットして連続測定を行うことができます（ターレット式）。また、定性分析の結果から FP 法により標準試料なしで半定量を行う SQX プログラムや、経験の浅い方でもマニュアルなしで SQX 分析が可能なEZ スキャンモードを搭載しています。