装置紹介 - Xray -
全自动卧式多功能X射线衍射仪XRD
用45 kV，200 mA（Cu）的强X射线照射固体材料，并测量从样品产生的散射X射线和衍射X射线。特别是在薄膜样品的测试中具有强大的功能。这是一种多功能测量设备，具有面内测量，膜厚测量，配位方向测量，粒径孔径分布测量，摇摆曲线测量等多种功能。由于具有引导功能，所以能使初学者更容易获得数据。可以选择Ge 2晶体或4晶体作为X射线入射源，以进行高分辨率测量。另外，还提供了能够在数分钟内进行高速测量的闪烁检测器和一维检测器。此外，还安装了ICDD（Ver 2.1102）。
高速单晶X射线衍射仪XtaLAB
这是一个单晶X射线结构分析系统，它装置有一个旋转的阴极高强度X射线源和一个X射线聚光镜，并且在κ型测角仪中集成了一个单光子检测混合像素检测器。 X射线源可以选自Mo和Cu的两种线源。该检测器具有零噪声和宽动态范围，可以同时检测高信噪比下的弱反射和强反射，并且还可以执行无快门高速测量。采用CrysAlisPro作为测量/数据处理软件，并且可以通过自动分析插件AutoChem进行高效分析。不仅可以分析金属络合物和低分子量化合物，还可以分析各种蛋白质晶体。
XRF分析仪XRF
该波长-色散（WDX）设备使用Rh 4 kW管作为X射线源，并将从样品产生的荧光X射线收集到五个光谱晶体（LiF1，PET，Ge，RX-25，RX-75）中，通过使用两种类型的检测器（闪烁计数器和气流类型比例计数器），可以对F到U的各种元素进行高灵敏度的定性和定量分析。样品可以为粉末，散装和液体样品，最多可以设置12个样品进行连续测量（转塔型）。此外，它还配备了基于定性分析的结果通过FP方法在不使用标准样品的情况下执行半定量分析的SQX程序以及甚至使没有经验的用户也可以无需手册也可进行SQX分析的简单扫描模式。