| 装置名 | 機種（メーカー） | 担当者 |
|---|---|---|
| 超伝導核磁気共鳴装置 | Avance Ⅲ 700（BRUKER） | 周 羽子岡 山下(4F) 陣内(5F) |
| Avance Ⅲ 600 WB（BRUKER） | ||
| ECA600（JEOL） | ||
| ECS400（JEOL） | ||
| 質量分析装置 | JMS-700（JEOL） | 朝野 松崎 |
| JMS-600H（JEOL） | ||
| AccuTOF-DART (JEOL） | ||
| Ultraflex Ⅲ（BRUKER） | ||
| micrOTOF Ⅱ（BRUKER） | ||
| Orbitrap XL（THERMO） | ||
| ITQ1100（THERMO） | ||
| フーリエ変換赤外分光光度計 | FT/IR4100（JASCO） | 鈴木 羽子岡 |
| React-IR45m (METTLER） | ||
| 紫外可視近赤外分光光度計 | V-770（JASCO） | |
| 旋光計 | P-2300（JASCO） | |
| 高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置 | ICPS-8100（SIMADZU） | 江口，羽子岡 |
| Ｘ線マイクロアナライザー | JXA-8800R（JEOL） | 江口 |
| 飛行時間型二次イオン質量分析装置 | M6（IONTOF) | 江口 |
| 集束イオンビーム装置 | FB2100(HITACHI) | 村上 |
| 走査型電子顕微鏡 | ||
| JSM-F100（JEOL) | 江口、村上 | |
| 透過型電子顕微鏡 | JEM-ARM200F（JEOL） | 村上 吉田 |
| JEM-2100 （JEOL） | 西野 | |
| 全自動水平型多目的Ｘ線回折装置 | SmartLab（RIGAKU） | 嵩原 |
| 単結晶自動Ｘ線回折装置 | XtaLAB（RIGAKU） | 嵩原 |
| FR-E+-IP,FR-E+-AXIS Ⅳ（RIGAKU) | ||
| CHN 微量元素分析装置 | 2400（PERKIN-ELMER） | 松崎 |
| JM10 (J-SCIENCE） | ||
| 示差熱天秤 | TG8120（RIGAKU） | 嵩原 |
| 示差走査熱量計 | DSC8270 （RIGAKU） | 嵩原 |
| ナノスケールハイブリッド顕微鏡 | Keyence VN-80 | 村上 |
| 蛍光X線回折装置 | ZSX100e (RIGAKU) | 後藤 |
| X線光電子分光装置 | KRATOS ULTRA2(SHIMADZU) | 羽子岡 |
| 円二色性分散計 | J-1500(JASCO) | 羽子岡 |